X A F S
EXAFSで化学状態を分析します
XAFS（X線吸収微細構造）はX線吸収原子の電子状態やその周辺構造などの情報、つまり電子状態、隣接原子までの距離やその個数、などを得ることができます。測定試料として、X線回折のように結晶物質に限らず分析することができます。
蓄電池材料や触媒開発に威力を発揮し、また環境化学物質の分析にも適しています。
分析例 ： モリブデンのＫ吸収端測定
分析例 ： モリブデン酸カリウムの動径分布関数
| 光源 | MIRRORCLE-CV4 |
| X線エネルギー | 10〜25keV |
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分析可能原子
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Ｋ殻：Ga(31)〜In(49) L殻：Tl(81)〜U(92) |
| エネルギー分解能 | ΔE / E = 5,000 |
| 試料形状 | 固体、薄膜、溶液、粉末 |
| 試料厚さ | 数μm〜数十μm |
| 試料サイズ | 10 x 30mm |